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TS400-R温控探针系列专门针对材料电学测试而设计的一款产品，温度范围为-196~400℃，全程温度稳定性控制0.5℃以内，采用四探针法可表征材料升温和降温阶段电阻率随温度变化的特征。
详细介绍
TS400-R温控探针系列专门针对材料电学测试而设计的一款产品，温度范围为-196~400℃，全程温度稳定性控制0.5℃以内，采用四探针法可表征材料升温和降温阶段电阻率随温度变化的特征。
TS400-R温控探针系列特点
1、可表征材料在升温和降温时段电阻率随温度变化
2、四线法测量材料电阻率，可消除接触电阻影响
3、测量薄膜和块体材料，适用于多种应用场景 升降温速率快，可大幅缩短测试时间 紧凑结构设计，占地空间小
TS400-R温控探针http://www.congtical.com/SonList-2213589.html
https://www.chem17.com/st471430/erlist_2213589.html